Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Gray, Kirk (Tác giả), Paschkewitz, John James (Tác giả)
Định dạng: Điện tử eBook
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Loạt:Wiley series in quality and reliability engineering.
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự