Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Gray, Kirk (Հեղինակ), Paschkewitz, John James (Հեղինակ)
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Շարք:Wiley series in quality and reliability engineering.
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!

Նմանատիպ նյութեր