Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Автори:	Servín, Manuel (Автор), Quiroga, J. Antonio (Автор), Padilla, J. Moises (Автор)
Формат:	Електронний ресурс eКнига
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Предмети:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
Онлайн доступ:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / за авторством Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

Опубліковано 2014

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

Електронний ресурс eКнига