Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Kaydedildi:

Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:	Servín, Manuel (Yazar), Quiroga, J. Antonio (Yazar), Padilla, J. Moises (Yazar)
Materyal Türü:	Elektronik Ekitap
Dil:	İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Konular:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
Online Erişim:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketler:	Etiketle Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!

Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / Yazar: Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

Baskı/Yayın Bilgisi 2014

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

Elektronik Ekitap