Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Sparad:

Bibliografiska uppgifter
Huvudskapare:	Servín, Manuel (Författare, medförfattare), Quiroga, J. Antonio (Författare, medförfattare), Padilla, J. Moises (Författare, medförfattare)
Materialtyp:	Elektronisk E-bok
Språk:	engelska
Publicerad:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Ämnen:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
Länkar:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Taggar:	Lägg till en tagg Inga taggar, Lägg till första taggen!

Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / av Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

Publicerad 2014

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

Elektronisk E-bok