Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Bewaard in:

Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:	Servín, Manuel (Auteur), Quiroga, J. Antonio (Auteur), Padilla, J. Moises (Auteur)
Formaat:	Elektronisch E-boek
Taal:	Engels
Gepubliceerd in:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Onderwerpen:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
Online toegang:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags:	Voeg label toe Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / door Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

Gepubliceerd in 2014

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

Elektronisch E-boek