Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

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書誌詳細
主要な著者:	Servín, Manuel (著者), Quiroga, J. Antonio (著者), Padilla, J. Moises (著者)
フォーマット:	電子媒体 eBook
言語:	英語
出版事項:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
主題:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
オンライン･アクセス:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / 著者: Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

出版事項 2014

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

電子媒体 eBook