Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

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Dettagli Bibliografici
Autori principali:	Servín, Manuel (Autore), Quiroga, J. Antonio (Autore), Padilla, J. Moises (Autore)
Natura:	Elettronico eBook
Lingua:	inglese
Pubblicazione:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Soggetti:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
Accesso online:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / di Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

Pubblicazione 2014

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

Elettronico eBook