Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

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ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखकों:	Servín, Manuel (लेखक), Quiroga, J. Antonio (लेखक), Padilla, J. Moises (लेखक)
स्वरूप:	इलेक्ट्रोनिक ई-पुस्तक
भाषा:	अंग्रेज़ी
प्रकाशित:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
विषय:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
ऑनलाइन पहुंच:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / द्वारा Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

प्रकाशित 2014

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

इलेक्ट्रोनिक ई-पुस्तक