Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Tallennettuna:

Bibliografiset tiedot
Päätekijät:	Servín, Manuel (Tekijä), Quiroga, J. Antonio (Tekijä), Padilla, J. Moises (Tekijä)
Aineistotyyppi:	Elektroninen E-kirja
Kieli:	englanti
Julkaistu:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Aiheet:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
Linkit:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit:	Lisää tagi Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / Tekijä Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

Julkaistu 2014

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

Elektroninen E-kirja