Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Servín, Manuel (VerfasserIn), Quiroga, J. Antonio (VerfasserIn), Padilla, J. Moises (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Schlagworte:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
Online-Zugang:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / von Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

Veröffentlicht 2014

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