Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Na minha lista:

Detalhes bibliográficos
Main Authors:	Servín, Manuel (Author), Quiroga, J. Antonio (Author), Padilla, J. Moises (Author)
Formato:	Recurso Electrónico livro electrónico
Idioma:	inglês
Publicado em:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Assuntos:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
Acesso em linha:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags:	Adicionar Tag Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!

Seja o primeiro a partilhar um comentário!

Registos relacionados