Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /
Zapisane w:
| Główni autorzy: | , , |
|---|---|
| Format: | Elektroniczne E-book |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
Weinheim, Germany :
Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA,
2014.
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Napisz pierwszy komentarz!