Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Sábháilte in:

Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoirí:	Servín, Manuel (Údar), Quiroga, J. Antonio (Údar), Padilla, J. Moises (Údar)
Formáid:	Leictreonach Ríomhleabhar
Teanga:	Béarla
Foilsithe / Cruthaithe:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Ábhair:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
Rochtain ar líne:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Clibeanna:	Cuir clib leis Níl clibeanna ann, Bí ar an gcéad duine le clib a chur leis an taifead seo!

Bí ar an gcéad duine le trácht a dhéanamh!

Míreanna comhchosúla