Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главные авторы: Servín, Manuel (Автор), Quiroga, J. Antonio (Автор), Padilla, J. Moises (Автор)
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Предметы:
Online-ссылка:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

Схожие документы