Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

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書誌詳細
主要な著者: Servín, Manuel (著者), Quiroga, J. Antonio (著者), Padilla, J. Moises (著者)
フォーマット: 電子媒体 eBook
言語:英語
出版事項: Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
主題:
オンライン・アクセス:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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その他の書誌記述
物理的記述:1 online resource (345 pages) : illustrations
書誌:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9783527681082 (e-book)