Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

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Dettagli Bibliografici
Autori principali: Servín, Manuel (Autore), Quiroga, J. Antonio (Autore), Padilla, J. Moises (Autore)
Natura: Elettronico eBook
Lingua:inglese
Pubblicazione: Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Soggetti:
Accesso online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Descrizione
Descrizione fisica:1 online resource (345 pages) : illustrations
Bibliografia:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9783527681082 (e-book)