Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Gorde:

Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:	Servín, Manuel (Egilea), Quiroga, J. Antonio (Egilea), Padilla, J. Moises (Egilea)
Formatua:	Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:	ingelesa
Argitaratua:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Gaiak:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
Sarrera elektronikoa:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketak:	Etiketa erantsi Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

Deskribapena
Deskribapen fisikoa:	1 online resource (345 pages) : illustrations
Bibliografia:	Includes bibliographical references and index.
ISBN:	9783527681082 (e-book)

Antzeko izenburuak