Yablon, D. G. (2014). Scanning probe microscopy for industrial applications: Nanomechanical characterization. Wiley.
Citace podle Chicago (17th ed.)Yablon, Dalia G. Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications: Nanomechanical Characterization. Hoboken, New Jersey: Wiley, 2014.
Citace podle MLA (9th ed.)Yablon, Dalia G. Scanning Probe Microscopy for Industrial Applications: Nanomechanical Characterization. Wiley, 2014.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..