Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective II /
שמור ב:
| מחברים אחרים: | |
|---|---|
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Stafa-Zurich ; Enfield, NH :
Trans Tech Publications,
[2010]
|
| סדרה: | Diffusion and defect data. Defect and diffusion forum ;
v. 307. |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective II /
יצא לאור: (2010)
יצא לאור: (2010)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective I /
יצא לאור: (2009)
יצא לאור: (2009)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective I /
יצא לאור: (2009)
יצא לאור: (2009)
Defects and diffusion in semiconductors. an annual retrospective /
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
Defects and diffusion in semiconductors. an annual retrospective /
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
Defects and diffusion in semiconductors.
יצא לאור: (2013)
יצא לאור: (2013)
Defects and diffusion in semiconductors.
יצא לאור: (2013)
יצא לאור: (2013)
Defects and diffusion in semiconductors XIII /
יצא לאור: (2011)
יצא לאור: (2011)
Defects and diffusion in semiconductors XIII /
יצא לאור: (2011)
יצא לאור: (2011)
Electron paramagnetic resonance studies of point defects in AlGaN and SiC /
מאת: Trinh, Xuan Thang
יצא לאור: (2015)
מאת: Trinh, Xuan Thang
יצא לאור: (2015)
Electron paramagnetic resonance studies of point defects in AlGaN and SiC /
מאת: Trinh, Xuan Thang
יצא לאור: (2015)
מאת: Trinh, Xuan Thang
יצא לאור: (2015)
Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
יצא לאור: (2012)
יצא לאור: (2012)
Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
יצא לאור: (2012)
יצא לאור: (2012)
Diffusion in semiconductors, other than silicon : compilation /
יצא לאור: (2010)
יצא לאור: (2010)
Diffusion in semiconductors, other than silicon : compilation /
יצא לאור: (2010)
יצא לאור: (2010)
Radiation defect engineering
מאת: Kozlovskiĭ, V. V. (Vitaliĭ Vasilʹevich)
יצא לאור: (2005)
מאת: Kozlovskiĭ, V. V. (Vitaliĭ Vasilʹevich)
יצא לאור: (2005)
Radiation defect engineering
מאת: Kozlovskiĭ, V. V. (Vitaliĭ Vasilʹevich)
יצא לאור: (2005)
מאת: Kozlovskiĭ, V. V. (Vitaliĭ Vasilʹevich)
יצא לאור: (2005)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective III /
יצא לאור: (2012)
יצא לאור: (2012)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective III /
יצא לאור: (2012)
יצא לאור: (2012)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective XI /
יצא לאור: (2009)
יצא לאור: (2009)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective X /
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective IX /
יצא לאור: (2007)
יצא לאור: (2007)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective XI /
יצא לאור: (2009)
יצא לאור: (2009)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective X /
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective IX /
יצא לאור: (2007)
יצא לאור: (2007)
Functionalization of semiconductor surfaces
יצא לאור: (2012)
יצא לאור: (2012)
Functionalization of semiconductor surfaces
יצא לאור: (2012)
יצא לאור: (2012)
On the perspectives of wide-band gap power devices in electronic-based power conversion for renewable systems
מאת: Araujo, Samuel Vasconcelos
יצא לאור: (2013)
מאת: Araujo, Samuel Vasconcelos
יצא לאור: (2013)
On the perspectives of wide-band gap power devices in electronic-based power conversion for renewable systems
מאת: Araujo, Samuel Vasconcelos
יצא לאור: (2013)
מאת: Araujo, Samuel Vasconcelos
יצא לאור: (2013)
Semiconductor physics and devices : basic principles /
מאת: Neamen, Donald A.
יצא לאור: (2003)
מאת: Neamen, Donald A.
יצא לאור: (2003)
Semiconductor physics and devices : basic principles /
מאת: Neamen, Donald A.
יצא לאור: (2012)
מאת: Neamen, Donald A.
יצא לאור: (2012)
Semiconductor physics and devices : basic principles /
מאת: Neamen, Donald A.
יצא לאור: (2003)
מאת: Neamen, Donald A.
יצא לאור: (2003)
Semiconductor physics and devices : basic principles /
מאת: Neamen, Donald A.
יצא לאור: (2003)
מאת: Neamen, Donald A.
יצא לאור: (2003)
Semiconductor physics and devices : basic principles /
מאת: Neamen, Donald A.
יצא לאור: (2003)
מאת: Neamen, Donald A.
יצא לאור: (2003)
Semiconductor physics and devices : basic principles /
מאת: Neamen, Donald A.
יצא לאור: (2012)
מאת: Neamen, Donald A.
יצא לאור: (2012)
Reliability and radiation effects in compound semiconductors
מאת: Johnston, Allan
יצא לאור: (2010)
מאת: Johnston, Allan
יצא לאור: (2010)
Reliability and radiation effects in compound semiconductors
מאת: Johnston, Allan
יצא לאור: (2010)
מאת: Johnston, Allan
יצא לאור: (2010)
Diffusion and defects in TiO2 : a compilation /
יצא לאור: (2013)
יצא לאור: (2013)
Diffusion and defects in TiO2 : a compilation /
יצא לאור: (2013)
יצא לאור: (2013)
Advanced semiconductor heterostructures novel devices, potential device applications and basic properties /
יצא לאור: (2003)
יצא לאור: (2003)