Defects and diffusion in semiconductors XIII /
Збережено в:
Інші автори: | Fisher, D. J. |
---|---|
Формат: | Електронний ресурс eКнига |
Мова: | Англійська |
Опубліковано: |
Durnten-Zurich :
Trans Tech Publications Ltd,
[2011]
|
Серія: | Diffusion and defect data. Defect and diffusion forum ;
v. 318. |
Предмети: | |
Онлайн доступ: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
Defects and diffusion in semiconductors.
Опубліковано: (2013)
Опубліковано: (2013)
Defects and diffusion in semiconductors. an annual retrospective /
Опубліковано: (2008)
Опубліковано: (2008)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective I /
Опубліковано: (2009)
Опубліковано: (2009)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective II /
Опубліковано: (2010)
Опубліковано: (2010)
Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Electron paramagnetic resonance studies of point defects in AlGaN and SiC /
за авторством: Trinh, Xuan Thang
Опубліковано: (2015)
за авторством: Trinh, Xuan Thang
Опубліковано: (2015)
Diffusion in semiconductors, other than silicon : compilation /
Опубліковано: (2010)
Опубліковано: (2010)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective IX /
Опубліковано: (2007)
Опубліковано: (2007)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective X /
Опубліковано: (2008)
Опубліковано: (2008)
Defects and diffusion in metals : an annual retrospective XI /
Опубліковано: (2009)
Опубліковано: (2009)
Defects and diffusion in ceramics XIII : an annual retrospective XIII /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective III /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Diffusion and defects in TiO2 : a compilation /
Опубліковано: (2013)
Опубліковано: (2013)
Radiation defect engineering
за авторством: Kozlovskiĭ, V. V. (Vitaliĭ Vasilʹevich)
Опубліковано: (2005)
за авторством: Kozlovskiĭ, V. V. (Vitaliĭ Vasilʹevich)
Опубліковано: (2005)
Functionalization of semiconductor surfaces
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Semiconductor physics and devices : basic principles /
за авторством: Neamen, Donald A.
Опубліковано: (2003)
за авторством: Neamen, Donald A.
Опубліковано: (2003)
Semiconductor physics and devices : basic principles /
за авторством: Neamen, Donald A.
Опубліковано: (2003)
за авторством: Neamen, Donald A.
Опубліковано: (2003)
Semiconductor physics and devices : basic principles /
за авторством: Neamen, Donald A.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Neamen, Donald A.
Опубліковано: (2012)
Semiconductor macroatoms basic physics and quantum-device applications /
Опубліковано: (2005)
Опубліковано: (2005)
Defects and diffusion studied using PAC spectroscopy /
Опубліковано: (2011)
Опубліковано: (2011)
Reliability and radiation effects in compound semiconductors
за авторством: Johnston, Allan
Опубліковано: (2010)
за авторством: Johnston, Allan
Опубліковано: (2010)
Advanced semiconductor heterostructures novel devices, potential device applications and basic properties /
Опубліковано: (2003)
Опубліковано: (2003)
Topics in high field transport in semiconductors
Опубліковано: (2001)
Опубліковано: (2001)
Semiconductor nanocrystal quantum dots synthesis, assembly, spectroscopy, and applications /
Опубліковано: (2008)
Опубліковано: (2008)
New organic semiconductors for applications in organic electronics
за авторством: Du, Chunyan
Опубліковано: (2010)
за авторством: Du, Chunyan
Опубліковано: (2010)
On the perspectives of wide-band gap power devices in electronic-based power conversion for renewable systems
за авторством: Araujo, Samuel Vasconcelos
Опубліковано: (2013)
за авторством: Araujo, Samuel Vasconcelos
Опубліковано: (2013)
HgCDTe system : reference guide /
Опубліковано: (2007)
Опубліковано: (2007)
Point defect energies /
Опубліковано: (2015)
Опубліковано: (2015)
Defects and diffusion in ceramics : an annual retrospective IX /
Опубліковано: (2007)
Опубліковано: (2007)
Properties of interacting low-dimensional systems
за авторством: Gumbs, Godfrey, 1948-
Опубліковано: (2011)
за авторством: Gumbs, Godfrey, 1948-
Опубліковано: (2011)
Quantum dots research, technology and applications /
Опубліковано: (2008)
Опубліковано: (2008)
SiC materials and devices
Опубліковано: (2007)
Опубліковано: (2007)
The technology of building defects
за авторством: Hinks, John (A. John)
Опубліковано: (1997)
за авторством: Hinks, John (A. John)
Опубліковано: (1997)
Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits
за авторством: Ker, Ming-Dou
Опубліковано: (2009)
за авторством: Ker, Ming-Dou
Опубліковано: (2009)
Low-dimensional carriers under in-plane magnetic field novel phenomena /
за авторством: Simserides, Constantinos
Опубліковано: (2010)
за авторством: Simserides, Constantinos
Опубліковано: (2010)
Molecular beam epitaxy from research to mass production /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Magnetism and superconductivity in low-dimensional systems utilization in future applications /
Опубліковано: (2008)
Опубліковано: (2008)
Physical properties of the low-dimensional A[superscript]3B[superscript]6 and A[superscript]3B[superscript]3C[superscript]6[subscript]2 compounds
за авторством: Panich, Alexander M.
Опубліковано: (2010)
за авторством: Panich, Alexander M.
Опубліковано: (2010)
Crystals, defects and microstructures modeling across scales /
за авторством: Phillips, Rob, 1960-
Опубліковано: (2001)
за авторством: Phillips, Rob, 1960-
Опубліковано: (2001)
Epioptics-11 proceedings of the 49th course of the International School of Solid State Physics : Erice, Italy, 19-26 July 2010 /
Опубліковано: (2012)
Опубліковано: (2012)
Схожі ресурси
-
Defects and diffusion in semiconductors.
Опубліковано: (2013) -
Defects and diffusion in semiconductors. an annual retrospective /
Опубліковано: (2008) -
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective I /
Опубліковано: (2009) -
Defects and diffusion, theory and simulation : an annual retrospective II /
Опубліковано: (2010) -
Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
Опубліковано: (2012)