صورة الغلاف

QR رمز

Silicon technologies ion implantation and thermal treatment /

The main purpose of this book is to remind new engineers in silicon foundry, the fundamental physical and chemical rules in major Front end treatments: oxidation, epitaxy, ion implantation and impurities diffusion.

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلف مشترك:	ebrary, Inc
مؤلفون آخرون:	Baudrant, Annie
التنسيق:	الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:	الإنجليزية
منشور في:	London : Hoboken, N.J. : ISTE ; Wiley, 2011.
الموضوعات:	Semiconductor doping. Ion implantation. Semiconductors > Heat treatment. Electronic books.
الوصول للمادة أونلاين:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة

Radiation defect engineering
حسب: Kozlovskiĭ, V. V. (Vitaliĭ Vasilʹevich)
منشور في: (2005)

Device characterization and modeling of large-size GaN HEMTs
حسب: Flores, Jaime Alberto Zamudio
منشور في: (2012)

Proceedings of the 10th Asian Conference on Solid State Ionics advanced materials for emerging technologies : Kandy, Sri Lanka, 12-16 June 2006 /
منشور في: (2006)

Proceedings of the 13th Asian Conference on Solid State Ionics ionics for a sustainable world: Sendai Japan, 17-20 July 2012 /
منشور في: (2012)

Ion implantation and activation.
حسب: Suzuki, Kunihiro
منشور في: (2013)

Ion implantation and activation.
حسب: Suzuki, Kunihiro
منشور في: (2013)

Advances in silicon carbide processing and applications
منشور في: (2004)

Fundamentals of silicon carbide technology : growth, characterization, devices and applications /
حسب: Kimoto, Tsunenobu, 1963-, وآخرون
منشور في: (2014)

Compound semiconductor bulk materials and characterizations
حسب: Oda, O.
منشور في: (2007)

Silicon carbide power devices
حسب: Baliga, B. Jayant, 1948-
منشور في: (2005)

CMOS RF modeling, characterization and applications
منشور في: (2002)

An introduction to the physics and electrochemistry of semiconductors : fundamentals and applications /
حسب: Sharon, Maheshwar
منشور في: (2016)

Doping in conjugated polymers
حسب: Kar, Pradip
منشور في: (2013)

Advances in III-V semiconductor nanowires and nanodevices
منشور في: (2011)

Semiconductor materials an introduction to basic principles /
حسب: Yacobi, B. G.
منشور في: (2003)

Materials for high-temperature semiconductor devices
منشور في: (1995)

Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /
حسب: Voldman, Steven H.
منشور في: (2014)

Handbook of distributed feedback laser diodes /
حسب: Morthier, Geert, وآخرون
منشور في: (2013)

CMOS technology
منشور في: (2011)

Compound semiconductor bulk materials and characterizations
حسب: Oda, Osamu
منشور في: (2012)

Transistors types, materials, and applications /
منشور في: (2010)

Semiconductor electrochemistry /
حسب: Memming, Rüdiger, 1931-
منشور في: (2015)

Characterizations of as grown and functionalized epitaxial graphene grown on SiC surfaces /
حسب: Xia, Chao
منشور في: (2015)

Silicon RF power MOSFETS
حسب: Baliga, B. Jayant, 1948-
منشور في: (2005)

III-nitride semiconductor materials /
منشور في: (2006)

GaN-based materials and devices growth, fabrication, characterization and performance /
منشور في: (2004)

Advances in semiconducting materials /
منشور في: (2009)

MOCVD growth of GaN-based high electron mobility transistor structures /
حسب: Chen, Jr-Tai
منشور في: (2015)

MOCVD growth of GaN-based high electron mobility transistor structures /
حسب: Chen, Jr-Tai
منشور في: (2015)

Transparent oxide electronics from materials to devices /
منشور في: (2012)

Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits
حسب: Ker, Ming-Dou
منشور في: (2009)

Nitride semiconductor devices fundamentals and applications /
حسب: Morkoç, Hadis
منشور في: (2013)

Geometric models for rolling-shutter and push-broom sensors /
حسب: Ringaby, Erik
منشور في: (2014)

Handbook of wafer bonding
منشور في: (2012)

Selected semiconductor research
حسب: Li, Ming-Fu
منشور في: (2011)

Recent topics on modeling of semiconductor processes, devices, and circuits
حسب: Onur Topaloglu, Rasit
منشور في: (2011)

Compound semiconductor integrated circuits
منشور في: (2003)

Modellierung der parasitaren passiven elemente in IGBT-Hochleistungsmodulen /
حسب: Heeb, Michael
منشور في: (2014)

Semiconductor strain metrology principles and applications /
حسب: Wong, Terence K. S.
منشور في: (2012)

Oxide reliability a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability /
منشور في: (2002)