Зображення обкладинки

QR код

Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Співавтор:	ebrary, Inc
Інші автори:	Claverie, A. (Alain)
Формат:	Електронний ресурс eКнига
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Hoboken, N.J. : London : John Wiley &Sons, Inc., ; ISTE, 2013.
Серія:	Nanoscience and nanotechnology series
Предмети:	Transmission electron microscopy. Nanoelectronics. Nanotechnology. Electronic books.
Онлайн доступ:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Схожі ресурси

Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy
Опубліковано: (2011)

Scanning probe microscopy
Опубліковано: (2011)

High-resolution electron microscopy
за авторством: Spence, John C. H.
Опубліковано: (2009)

Electron microscopy and analysis
за авторством: Goodhew, Peter J.
Опубліковано: (2001)

Biomedical electron microscopy illustrated methods and interpretations /
за авторством: Maunsbach, Arvid Bernhard
Опубліковано: (1999)

In-situ electron microscopy at high resolution
Опубліковано: (2008)

Electron microscopy XIV : selected, peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM2011), June 26-30, 2011, Wisla, Poland /
Опубліковано: (2012)

Electron microscopy : methods and protocols /
Опубліковано: (2007)

Structure analysis of advanced nanomaterials : nanoworld by high-resolution electron microscopy /
за авторством: Oku, Takeo
Опубліковано: (2014)

Principles and practice of variable pressure/environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM)
за авторством: Stokes, Debbie
Опубліковано: (2008)

Nano-optics and near-field optical microscopy
Опубліковано: (2009)

Holographic microscopy of phase microscopic objects theory and practice /
за авторством: Tishko, Tatyana
Опубліковано: (2011)

4D electron microscopy imaging in space and time /
за авторством: Zewail, Ahmed H.
Опубліковано: (2010)

Nanoscale processes on insulating surfaces
за авторством: Gnecco, Enrico
Опубліковано: (2009)

Biological low-voltage scanning electron microscopy
Опубліковано: (2008)

Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis
за авторством: Joy, David C., 1943-
Опубліковано: (1995)

Introduction to scanning tunneling microscopy
за авторством: Chen, C. Julian
Опубліковано: (1993)

Fluorescence microscopy : from principles to biological applications /
Опубліковано: (2017)

Atomic force microscopy exploring basic modes and advanced applications /
за авторством: Haugstad, Greg, 1963-
Опубліковано: (2012)

Multiphoton microscopy and fluorescence lifetime imaging : applications in biology and medicine /
Опубліковано: (2018)

Atomic force microscopy in liquid biological applications /
Опубліковано: (2012)

Atomic force microscopy for biologists
за авторством: Morris, V. J.
Опубліковано: (2010)

Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
за авторством: Sarid, Dror
Опубліковано: (1994)

Electron-phonon interactions in novel nanoelectronics
за авторством: Kato, Takashi
Опубліковано: (2009)

Scanning probe microscopy of soft matter fundamentals and practices /
за авторством: T͡Sukruk, V. V. (Vladimir Vasilʹevich)
Опубліковано: (2012)

Advances in acoustic microscopy and high resolution imaging from principles to applications /
Опубліковано: (2013)

Molecular imaging FRET microscopy and spectroscopy /
Опубліковано: (2005)

Advances in nanoengineering electronics, materials, assembly /
Опубліковано: (2007)

Rastertunnelmikroskopie und-spektroskopie an ruthenaten und der violetten lithium-molybdan-bronze /
за авторством: Klinke, Melanie
Опубліковано: (2014)

Rastertunnelmikroskopie und -spektroskopie an Au/Ge(001)-Nanodrahten : ein modellsystem der luttinger-flussigkeit /
за авторством: Sebastian Mietke
Опубліковано: (2014)

Scanning electron microscopy for the life sciences
за авторством: Schatten, Heide
Опубліковано: (2013)

Emerging nanoelectronic devices /
Опубліковано: (2015)

Handbook of nanoscopy
Опубліковано: (2012)

Frontiers in electronics : advanced modeling in nanoscale electron devices /
Опубліковано: (2014)

Advanced electron microscopy and nanomaterials : selected, peer reviewed papers from the First Joint Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials and the Workshop on Nanomaterials (AEM-NANOMAT '09), Saltillo (Coahuila) México, September 29th-October 2nd, 2009 /
Опубліковано: (2010)

Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopy
Опубліковано: (2000)

Three-dimensional electron microscopy of macromolecular assemblies visualization of biological molecules in their native state /
за авторством: Frank, J. (Joachim), 1940-
Опубліковано: (2006)

Optics and electronics
за авторством: Sarode, R. T.
Опубліковано: (2007)

Multi-modality microscopy
Опубліковано: (2006)

Scanning electron microscope optics and spectrometers
за авторством: Khursheed, Anjam
Опубліковано: (2011)