Semiconductor strain metrology principles and applications /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Wong, Terence K. S.
Соавтор: ebrary, Inc
Формат: Электронный ресурс eКнига
Язык:английский
Опубликовано: [Saif Zone, Sharjah, U.A.E] ; Oak Park, IL : Bentham Science, [2012]
Предметы:
Online-ссылка:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

Схожие документы