Microelectronics failure analysis desk reference /
Збережено в:
| Співавтор: | |
|---|---|
| Інші автори: | |
| Формат: | Електронний ресурс eКнига |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Materials Park, Ohio :
ASM International,
c2011.
|
| Редагування: | 6th ed. |
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Зміст:
- section 1. Introduction
- section 2. Failure analysis process overviews
- section 3. Failure analysis topics
- section 4. Fault verification and classification
- section 5. Localization techniques
- section 6. Deprocessing and sample preparation
- section 7. Inspection
- section 8. Materials analysis
- section 9. Focused ion beam applications
- section 10. Management and reference information.