Microelectronics failure analysis desk reference /
Сохранить в:
| Соавтор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Формат: | Электронный ресурс eКнига |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
Materials Park, Ohio :
ASM International,
c2011.
|
| Редактирование: | 6th ed. |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Оглавление:
- section 1. Introduction
- section 2. Failure analysis process overviews
- section 3. Failure analysis topics
- section 4. Fault verification and classification
- section 5. Localization techniques
- section 6. Deprocessing and sample preparation
- section 7. Inspection
- section 8. Materials analysis
- section 9. Focused ion beam applications
- section 10. Management and reference information.