Microelectronics failure analysis desk reference /
Zapisane w:
| Korporacja: | |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | |
| Format: | Elektroniczne E-book |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
Materials Park, Ohio :
ASM International,
c2011.
|
| Wydanie: | 6th ed. |
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Spis treści:
- section 1. Introduction
- section 2. Failure analysis process overviews
- section 3. Failure analysis topics
- section 4. Fault verification and classification
- section 5. Localization techniques
- section 6. Deprocessing and sample preparation
- section 7. Inspection
- section 8. Materials analysis
- section 9. Focused ion beam applications
- section 10. Management and reference information.