Microelectronics failure analysis desk reference /
-д хадгалсан:
| Байгууллагын зохиогч: | |
|---|---|
| Бусад зохиолчид: | |
| Формат: | Цахим Цахим ном |
| Хэл сонгох: | англи |
| Хэвлэсэн: |
Materials Park, Ohio :
ASM International,
c2011.
|
| Хэвлэл: | 6th ed. |
| Нөхцлүүд: | |
| Онлайн хандалт: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Шошгууд: |
Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!
|
Агуулга:
- section 1. Introduction
- section 2. Failure analysis process overviews
- section 3. Failure analysis topics
- section 4. Fault verification and classification
- section 5. Localization techniques
- section 6. Deprocessing and sample preparation
- section 7. Inspection
- section 8. Materials analysis
- section 9. Focused ion beam applications
- section 10. Management and reference information.