Microelectronics failure analysis desk reference /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
Materials Park, Ohio :
ASM International,
c2011.
|
| Έκδοση: | 6th ed. |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Πίνακας περιεχομένων:
- section 1. Introduction
- section 2. Failure analysis process overviews
- section 3. Failure analysis topics
- section 4. Fault verification and classification
- section 5. Localization techniques
- section 6. Deprocessing and sample preparation
- section 7. Inspection
- section 8. Materials analysis
- section 9. Focused ion beam applications
- section 10. Management and reference information.