Microelectronics failure analysis desk reference /

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: ebrary, Inc
Outros autores: Ross, Richard J.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:inglés
Publicado: Materials Park, Ohio : ASM International, c2011.
Edición:6th ed.
Subjects:
Acceso en liña:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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