Handbook of wafer bonding
Uloženo v:
Korporativní autor: | ebrary, Inc |
---|---|
Další autoři: | Ramm, Peter, Lu, James Jian-Qiang, Taklo, Maaike M. V. |
Médium: | Elektronický zdroj E-kniha |
Jazyk: | angličtina |
Vydáno: |
Weinheim, Germany :
Wiley-VCH,
2012.
|
Témata: | |
On-line přístup: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Podobné jednotky
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
Autor: Bahukudumbi, Sudarshan
Vydáno: (2010)
Autor: Bahukudumbi, Sudarshan
Vydáno: (2010)
Semiconductor strain metrology principles and applications /
Autor: Wong, Terence K. S.
Vydáno: (2012)
Autor: Wong, Terence K. S.
Vydáno: (2012)
CMOS sigma-delta converters practical design guide /
Autor: Rosa, José M. de la
Vydáno: (2013)
Autor: Rosa, José M. de la
Vydáno: (2013)
Nano-CMOS circuit and physical design
Vydáno: (2005)
Vydáno: (2005)
Compound semiconductor bulk materials and characterizations
Autor: Oda, O.
Vydáno: (2007)
Autor: Oda, O.
Vydáno: (2007)
Semiconductor electronic devices study book /
Autor: Staras, Stanislovas
Vydáno: (2010)
Autor: Staras, Stanislovas
Vydáno: (2010)
Hybrid CMOS single-electron-transistor device and circuit design
Autor: Mahapatra, Santanu
Vydáno: (2006)
Autor: Mahapatra, Santanu
Vydáno: (2006)
ESD design and synthesis /
Autor: Voldman, Steven H.
Vydáno: (2011)
Autor: Voldman, Steven H.
Vydáno: (2011)
Handbook of distributed feedback laser diodes /
Autor: Morthier, Geert, a další
Vydáno: (2013)
Autor: Morthier, Geert, a další
Vydáno: (2013)
CMOS RF modeling, characterization and applications
Vydáno: (2002)
Vydáno: (2002)
An introduction to the physics and electrochemistry of semiconductors : fundamentals and applications /
Autor: Sharon, Maheshwar
Vydáno: (2016)
Autor: Sharon, Maheshwar
Vydáno: (2016)
Semiconductor materials an introduction to basic principles /
Autor: Yacobi, B. G.
Vydáno: (2003)
Autor: Yacobi, B. G.
Vydáno: (2003)
Advances in III-V semiconductor nanowires and nanodevices
Vydáno: (2011)
Vydáno: (2011)
Materials for high-temperature semiconductor devices
Vydáno: (1995)
Vydáno: (1995)
Silicon technologies ion implantation and thermal treatment /
Vydáno: (2011)
Vydáno: (2011)
Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /
Autor: Voldman, Steven H.
Vydáno: (2014)
Autor: Voldman, Steven H.
Vydáno: (2014)
Makers of the microchip a documentary history of Fairchild Semiconductor /
Autor: Lécuyer, Christophe
Vydáno: (2010)
Autor: Lécuyer, Christophe
Vydáno: (2010)
Compound semiconductor bulk materials and characterizations
Autor: Oda, Osamu
Vydáno: (2012)
Autor: Oda, Osamu
Vydáno: (2012)
Transistors types, materials, and applications /
Vydáno: (2010)
Vydáno: (2010)
Semiconductor electrochemistry /
Autor: Memming, Rüdiger, 1931-
Vydáno: (2015)
Autor: Memming, Rüdiger, 1931-
Vydáno: (2015)
Characterizations of as grown and functionalized epitaxial graphene grown on SiC surfaces /
Autor: Xia, Chao
Vydáno: (2015)
Autor: Xia, Chao
Vydáno: (2015)
GaN-based materials and devices growth, fabrication, characterization and performance /
Vydáno: (2004)
Vydáno: (2004)
Advances in silicon carbide processing and applications
Vydáno: (2004)
Vydáno: (2004)
III-nitride semiconductor materials /
Vydáno: (2006)
Vydáno: (2006)
Advances in semiconducting materials /
Vydáno: (2009)
Vydáno: (2009)
MOCVD growth of GaN-based high electron mobility transistor structures /
Autor: Chen, Jr-Tai
Vydáno: (2015)
Autor: Chen, Jr-Tai
Vydáno: (2015)
MOCVD growth of GaN-based high electron mobility transistor structures /
Autor: Chen, Jr-Tai
Vydáno: (2015)
Autor: Chen, Jr-Tai
Vydáno: (2015)
Transparent oxide electronics from materials to devices /
Vydáno: (2012)
Vydáno: (2012)
Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits
Autor: Ker, Ming-Dou
Vydáno: (2009)
Autor: Ker, Ming-Dou
Vydáno: (2009)
Nitride semiconductor devices fundamentals and applications /
Autor: Morkoç, Hadis
Vydáno: (2013)
Autor: Morkoç, Hadis
Vydáno: (2013)
Geometric models for rolling-shutter and push-broom sensors /
Autor: Ringaby, Erik
Vydáno: (2014)
Autor: Ringaby, Erik
Vydáno: (2014)
Database needs for modeling and simulation of plasma processing
Vydáno: (1996)
Vydáno: (1996)
Podobné jednotky
-
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
Autor: Bahukudumbi, Sudarshan
Vydáno: (2010) -
Semiconductor strain metrology principles and applications /
Autor: Wong, Terence K. S.
Vydáno: (2012) -
CMOS sigma-delta converters practical design guide /
Autor: Rosa, José M. de la
Vydáno: (2013) -
Nano-CMOS circuit and physical design
Vydáno: (2005) -
Compound semiconductor bulk materials and characterizations
Autor: Oda, O.
Vydáno: (2007)