Handbook of wafer bonding
Պահպանված է:
Համատեղ հեղինակ: | ebrary, Inc |
---|---|
Այլ հեղինակներ: | Ramm, Peter, Lu, James Jian-Qiang, Taklo, Maaike M. V. |
Ձևաչափ: | Էլեկտրոնային էլ․ գիրք |
Լեզու: | անգլերեն |
Հրապարակվել է: |
Weinheim, Germany :
Wiley-VCH,
2012.
|
Խորագրեր: | |
Առցանց հասանելիություն: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
: Bahukudumbi, Sudarshan
Հրապարակվել է: (2010)
: Bahukudumbi, Sudarshan
Հրապարակվել է: (2010)
Semiconductor strain metrology principles and applications /
: Wong, Terence K. S.
Հրապարակվել է: (2012)
: Wong, Terence K. S.
Հրապարակվել է: (2012)
CMOS sigma-delta converters practical design guide /
: Rosa, José M. de la
Հրապարակվել է: (2013)
: Rosa, José M. de la
Հրապարակվել է: (2013)
Nano-CMOS circuit and physical design
Հրապարակվել է: (2005)
Հրապարակվել է: (2005)
Compound semiconductor bulk materials and characterizations
: Oda, O.
Հրապարակվել է: (2007)
: Oda, O.
Հրապարակվել է: (2007)
Semiconductor electronic devices study book /
: Staras, Stanislovas
Հրապարակվել է: (2010)
: Staras, Stanislovas
Հրապարակվել է: (2010)
Hybrid CMOS single-electron-transistor device and circuit design
: Mahapatra, Santanu
Հրապարակվել է: (2006)
: Mahapatra, Santanu
Հրապարակվել է: (2006)
ESD design and synthesis /
: Voldman, Steven H.
Հրապարակվել է: (2011)
: Voldman, Steven H.
Հրապարակվել է: (2011)
Handbook of distributed feedback laser diodes /
: Morthier, Geert, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)
: Morthier, Geert, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)
CMOS RF modeling, characterization and applications
Հրապարակվել է: (2002)
Հրապարակվել է: (2002)
An introduction to the physics and electrochemistry of semiconductors : fundamentals and applications /
: Sharon, Maheshwar
Հրապարակվել է: (2016)
: Sharon, Maheshwar
Հրապարակվել է: (2016)
Semiconductor materials an introduction to basic principles /
: Yacobi, B. G.
Հրապարակվել է: (2003)
: Yacobi, B. G.
Հրապարակվել է: (2003)
Advances in III-V semiconductor nanowires and nanodevices
Հրապարակվել է: (2011)
Հրապարակվել է: (2011)
Materials for high-temperature semiconductor devices
Հրապարակվել է: (1995)
Հրապարակվել է: (1995)
Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /
: Voldman, Steven H.
Հրապարակվել է: (2014)
: Voldman, Steven H.
Հրապարակվել է: (2014)
Silicon technologies ion implantation and thermal treatment /
Հրապարակվել է: (2011)
Հրապարակվել է: (2011)
Makers of the microchip a documentary history of Fairchild Semiconductor /
: Lécuyer, Christophe
Հրապարակվել է: (2010)
: Lécuyer, Christophe
Հրապարակվել է: (2010)
Compound semiconductor bulk materials and characterizations
: Oda, Osamu
Հրապարակվել է: (2012)
: Oda, Osamu
Հրապարակվել է: (2012)
Transistors types, materials, and applications /
Հրապարակվել է: (2010)
Հրապարակվել է: (2010)
Semiconductor electrochemistry /
: Memming, Rüdiger, 1931-
Հրապարակվել է: (2015)
: Memming, Rüdiger, 1931-
Հրապարակվել է: (2015)
Characterizations of as grown and functionalized epitaxial graphene grown on SiC surfaces /
: Xia, Chao
Հրապարակվել է: (2015)
: Xia, Chao
Հրապարակվել է: (2015)
GaN-based materials and devices growth, fabrication, characterization and performance /
Հրապարակվել է: (2004)
Հրապարակվել է: (2004)
Advances in silicon carbide processing and applications
Հրապարակվել է: (2004)
Հրապարակվել է: (2004)
III-nitride semiconductor materials /
Հրապարակվել է: (2006)
Հրապարակվել է: (2006)
Advances in semiconducting materials /
Հրապարակվել է: (2009)
Հրապարակվել է: (2009)
MOCVD growth of GaN-based high electron mobility transistor structures /
: Chen, Jr-Tai
Հրապարակվել է: (2015)
: Chen, Jr-Tai
Հրապարակվել է: (2015)
MOCVD growth of GaN-based high electron mobility transistor structures /
: Chen, Jr-Tai
Հրապարակվել է: (2015)
: Chen, Jr-Tai
Հրապարակվել է: (2015)
Transparent oxide electronics from materials to devices /
Հրապարակվել է: (2012)
Հրապարակվել է: (2012)
Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits
: Ker, Ming-Dou
Հրապարակվել է: (2009)
: Ker, Ming-Dou
Հրապարակվել է: (2009)
Nitride semiconductor devices fundamentals and applications /
: Morkoç, Hadis
Հրապարակվել է: (2013)
: Morkoç, Hadis
Հրապարակվել է: (2013)
Geometric models for rolling-shutter and push-broom sensors /
: Ringaby, Erik
Հրապարակվել է: (2014)
: Ringaby, Erik
Հրապարակվել է: (2014)
Database needs for modeling and simulation of plasma processing
Հրապարակվել է: (1996)
Հրապարակվել է: (1996)
CMOS circuit design for RF sensors
: Gudnason, Gunnar
Հրապարակվել է: (2002)
: Gudnason, Gunnar
Հրապարակվել է: (2002)
Microelectronic failure analysis desk reference : 2001 supplement /
Հրապարակվել է: (2001)
Հրապարակվել է: (2001)
Microelectronic failure analysis desk reference.
Հրապարակվել է: (2002)
Հրապարակվել է: (2002)
Microelectronics failure analysis desk reference /
Հրապարակվել է: (2011)
Հրապարակվել է: (2011)
Նմանատիպ նյութեր
-
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
: Bahukudumbi, Sudarshan
Հրապարակվել է: (2010) -
Semiconductor strain metrology principles and applications /
: Wong, Terence K. S.
Հրապարակվել է: (2012) -
CMOS sigma-delta converters practical design guide /
: Rosa, José M. de la
Հրապարակվել է: (2013) -
Nano-CMOS circuit and physical design
Հրապարակվել է: (2005) -
Compound semiconductor bulk materials and characterizations
: Oda, O.
Հրապարակվել է: (2007)