תמונות העטיפה

QR Code

Reliability technology principles and practice of failure prevention in electronic systems /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Pascoe, Norman
מחבר תאגידי:	ebrary, Inc
פורמט:	אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:	אנגלית
יצא לאור:	Chichester, West Sussex, U.K. : Wiley, 2011.
סדרה:	Wiley series in quality and reliability engineering.
נושאים:	Electronic apparatus and appliances > Reliability. System failures (Engineering) > Prevention. Electronic books.
גישה מקוונת:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים

Failure analysis a practical guide for manufacturers of electronic components and systems /
מאת: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
יצא לאור: (2011)

Parts selection and management
יצא לאור: (2004)

Guide to state-of-the-art electron devices
יצא לאור: (2013)

Electronic components and processes
מאת: Maheshwari, Preeti
יצא לאור: (2006)

Novel architectures for flexible electrochemical devices and systems
מאת: Kawahara, Jun
יצא לאור: (2013)

Electronic devices and amplifier circuits with MATLABʼ / Simulinkʼ / SimElectronics ʼ examples
מאת: Karris, Steven T.
יצא לאור: (2012)

Hertzian tales electronic products, aesthetic experience, and critical design /
מאת: Dunne, Anthony
יצא לאור: (2005)

High temperature electronics design for aero engine controls and health monitoring /
מאת: Stoica, Lucian, et al.
יצא לאור: (2016)

Electronic devices : a text and software problems manual /
מאת: Schultz, Mitchel E.
יצא לאור: (1994)

Polymers for electronic components a Rapra industry analysis report /
מאת: Cousins, Keith
יצא לאור: (2001)

Designing the internet of things /
מאת: McEwen, Adrian
יצא לאור: (2014)

Boundary-scan interconnect diagnosis
מאת: Sousa, José T. de
יצא לאור: (2001)

Lead-free solder interconnect reliability
יצא לאור: (2005)

Spacecraft reliability and multi-state failures a statistical approach /
מאת: Saleh, Joseph H., 1971-
יצא לאור: (2011)

Solid state electronic devices /
מאת: Streetman, Ben G.
יצא לאור: (2010)

Construction reliability safety, variability and sustainability /
יצא לאור: (2011)

Cost analysis of electronic systems
מאת: Sandborn, Peter
יצא לאור: (2013)

Electronic : devices and circuits /
מאת: Kulshreshtha, D. c.
יצא לאור: (2006)

Electronic materials science
מאת: Irene, Eugene A.
יצא לאור: (2005)

Introduction to microfabrication
מאת: Franssila, Sami
יצא לאור: (2010)

Digital rubbish natural history of electronics /
מאת: Gabrys, Jennifer
יצא לאור: (2011)

Polymers for electricity and electronics materials, properties, and applications /
מאת: Drobny, Jiri George
יצא לאור: (2012)

Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
מאת: Ibe, Eishi H.
יצא לאור: (2015)

A designer's guide to built-in self-test
מאת: Stroud, Charles E.
יצא לאור: (2002)

High tech trash digital devices, hidden toxics, and human health /
מאת: Grossman, Elizabeth, 1957-
יצא לאור: (2006)

ESD basics from semiconductor manufacturing to use /
מאת: Voldman, Steven H.
יצא לאור: (2012)

Materials for high-density electronic packaging and interconnection report of the Committee on Materials for High-Density Electronic Packaging, National Materials Advisory Board, Commission on Engineering and Technical Systems, National Research Council.
יצא לאור: (1990)

System and Bayesian reliability essays in honor of Professor Richard E. Barlow on his 70th birthday /
יצא לאור: (2001)

Electrical characterization of organic electronic materials and devices
מאת: Stallinga, Peter, 1966-
יצא לאור: (2009)

Systems reliability and failure prevention
מאת: Hecht, Herbert
יצא לאור: (2004)

Single-electron devices and circuits in silicon
מאת: Durrani, Zahid Ali Khan
יצא לאור: (2010)

Advanced manufacturing process, lead free interconnect materials and reliability modeling for electronics packaging
יצא לאור: (2006)

Electrical engineering materials
מאת: Basak, T. K.
יצא לאור: (2012)

ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.
יצא לאור: (1996)

Technology for facility managers the impact of cutting-edge technology on facility management /
יצא לאור: (2012)

ISTFA 2002 proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 3-7 November 2002, Phoenix Civic Center, Phoenix, Ariz. /
יצא לאור: (2002)

ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.
יצא לאור: (2000)

ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.
יצא לאור: (1999)

ISTFA '98 proceedings of the 24th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 15-19 November 1998, Hyatt Regency DFW, Dallas, Texas /
יצא לאור: (1998)

ISTFA 2004 proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts /
יצא לאור: (2004)