Reliability technology principles and practice of failure prevention in electronic systems /
Wedi'i Gadw mewn:
Prif Awdur: | Pascoe, Norman |
---|---|
Awdur Corfforaethol: | ebrary, Inc |
Fformat: | Electronig eLyfr |
Iaith: | Saesneg |
Cyhoeddwyd: |
Chichester, West Sussex, U.K. :
Wiley,
2011.
|
Cyfres: | Wiley series in quality and reliability engineering.
|
Pynciau: | |
Mynediad Ar-lein: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Tagiau: |
Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
|
Eitemau Tebyg
Failure analysis a practical guide for manufacturers of electronic components and systems /
gan: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
Cyhoeddwyd: (2011)
gan: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
Cyhoeddwyd: (2011)
Parts selection and management
Cyhoeddwyd: (2004)
Cyhoeddwyd: (2004)
Guide to state-of-the-art electron devices
Cyhoeddwyd: (2013)
Cyhoeddwyd: (2013)
Electronic components and processes
gan: Maheshwari, Preeti
Cyhoeddwyd: (2006)
gan: Maheshwari, Preeti
Cyhoeddwyd: (2006)
Novel architectures for flexible electrochemical devices and systems
gan: Kawahara, Jun
Cyhoeddwyd: (2013)
gan: Kawahara, Jun
Cyhoeddwyd: (2013)
Electronic devices and amplifier circuits with MATLABʼ / Simulinkʼ / SimElectronics ʼ examples
gan: Karris, Steven T.
Cyhoeddwyd: (2012)
gan: Karris, Steven T.
Cyhoeddwyd: (2012)
Hertzian tales electronic products, aesthetic experience, and critical design /
gan: Dunne, Anthony
Cyhoeddwyd: (2005)
gan: Dunne, Anthony
Cyhoeddwyd: (2005)
High temperature electronics design for aero engine controls and health monitoring /
gan: Stoica, Lucian, et al.
Cyhoeddwyd: (2016)
gan: Stoica, Lucian, et al.
Cyhoeddwyd: (2016)
Electronic devices : a text and software problems manual /
gan: Schultz, Mitchel E.
Cyhoeddwyd: (1994)
gan: Schultz, Mitchel E.
Cyhoeddwyd: (1994)
Polymers for electronic components a Rapra industry analysis report /
gan: Cousins, Keith
Cyhoeddwyd: (2001)
gan: Cousins, Keith
Cyhoeddwyd: (2001)
Designing the internet of things /
gan: McEwen, Adrian
Cyhoeddwyd: (2014)
gan: McEwen, Adrian
Cyhoeddwyd: (2014)
Boundary-scan interconnect diagnosis
gan: Sousa, José T. de
Cyhoeddwyd: (2001)
gan: Sousa, José T. de
Cyhoeddwyd: (2001)
Lead-free solder interconnect reliability
Cyhoeddwyd: (2005)
Cyhoeddwyd: (2005)
Spacecraft reliability and multi-state failures a statistical approach /
gan: Saleh, Joseph H., 1971-
Cyhoeddwyd: (2011)
gan: Saleh, Joseph H., 1971-
Cyhoeddwyd: (2011)
Solid state electronic devices /
gan: Streetman, Ben G.
Cyhoeddwyd: (2010)
gan: Streetman, Ben G.
Cyhoeddwyd: (2010)
Construction reliability safety, variability and sustainability /
Cyhoeddwyd: (2011)
Cyhoeddwyd: (2011)
Cost analysis of electronic systems
gan: Sandborn, Peter
Cyhoeddwyd: (2013)
gan: Sandborn, Peter
Cyhoeddwyd: (2013)
Electronic : devices and circuits /
gan: Kulshreshtha, D. c.
Cyhoeddwyd: (2006)
gan: Kulshreshtha, D. c.
Cyhoeddwyd: (2006)
Electronic materials science
gan: Irene, Eugene A.
Cyhoeddwyd: (2005)
gan: Irene, Eugene A.
Cyhoeddwyd: (2005)
Introduction to microfabrication
gan: Franssila, Sami
Cyhoeddwyd: (2010)
gan: Franssila, Sami
Cyhoeddwyd: (2010)
Digital rubbish natural history of electronics /
gan: Gabrys, Jennifer
Cyhoeddwyd: (2011)
gan: Gabrys, Jennifer
Cyhoeddwyd: (2011)
Polymers for electricity and electronics materials, properties, and applications /
gan: Drobny, Jiri George
Cyhoeddwyd: (2012)
gan: Drobny, Jiri George
Cyhoeddwyd: (2012)
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
gan: Ibe, Eishi H.
Cyhoeddwyd: (2015)
gan: Ibe, Eishi H.
Cyhoeddwyd: (2015)
A designer's guide to built-in self-test
gan: Stroud, Charles E.
Cyhoeddwyd: (2002)
gan: Stroud, Charles E.
Cyhoeddwyd: (2002)
High tech trash digital devices, hidden toxics, and human health /
gan: Grossman, Elizabeth, 1957-
Cyhoeddwyd: (2006)
gan: Grossman, Elizabeth, 1957-
Cyhoeddwyd: (2006)
ESD basics from semiconductor manufacturing to use /
gan: Voldman, Steven H.
Cyhoeddwyd: (2012)
gan: Voldman, Steven H.
Cyhoeddwyd: (2012)
Materials for high-density electronic packaging and interconnection report of the Committee on Materials for High-Density Electronic Packaging, National Materials Advisory Board, Commission on Engineering and Technical Systems, National Research Council.
Cyhoeddwyd: (1990)
Cyhoeddwyd: (1990)
System and Bayesian reliability essays in honor of Professor Richard E. Barlow on his 70th birthday /
Cyhoeddwyd: (2001)
Cyhoeddwyd: (2001)
Systems reliability and failure prevention
gan: Hecht, Herbert
Cyhoeddwyd: (2004)
gan: Hecht, Herbert
Cyhoeddwyd: (2004)
Advanced manufacturing process, lead free interconnect materials and reliability modeling for electronics packaging
Cyhoeddwyd: (2006)
Cyhoeddwyd: (2006)
Electrical characterization of organic electronic materials and devices
gan: Stallinga, Peter, 1966-
Cyhoeddwyd: (2009)
gan: Stallinga, Peter, 1966-
Cyhoeddwyd: (2009)
Single-electron devices and circuits in silicon
gan: Durrani, Zahid Ali Khan
Cyhoeddwyd: (2010)
gan: Durrani, Zahid Ali Khan
Cyhoeddwyd: (2010)
Electrical engineering materials
gan: Basak, T. K.
Cyhoeddwyd: (2012)
gan: Basak, T. K.
Cyhoeddwyd: (2012)
ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.
Cyhoeddwyd: (1996)
Cyhoeddwyd: (1996)
Technology for facility managers the impact of cutting-edge technology on facility management /
Cyhoeddwyd: (2012)
Cyhoeddwyd: (2012)
ISTFA 2002 proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 3-7 November 2002, Phoenix Civic Center, Phoenix, Ariz. /
Cyhoeddwyd: (2002)
Cyhoeddwyd: (2002)
ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.
Cyhoeddwyd: (2000)
Cyhoeddwyd: (2000)
ISTFA '98 proceedings of the 24th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 15-19 November 1998, Hyatt Regency DFW, Dallas, Texas /
Cyhoeddwyd: (1998)
Cyhoeddwyd: (1998)
ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.
Cyhoeddwyd: (1999)
Cyhoeddwyd: (1999)
ISTFA 2004 proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts /
Cyhoeddwyd: (2004)
Cyhoeddwyd: (2004)
Eitemau Tebyg
-
Failure analysis a practical guide for manufacturers of electronic components and systems /
gan: Bâzu, M. I. (Marius I.), 1948-
Cyhoeddwyd: (2011) -
Parts selection and management
Cyhoeddwyd: (2004) -
Guide to state-of-the-art electron devices
Cyhoeddwyd: (2013) -
Electronic components and processes
gan: Maheshwari, Preeti
Cyhoeddwyd: (2006) -
Novel architectures for flexible electrochemical devices and systems
gan: Kawahara, Jun
Cyhoeddwyd: (2013)