Electromigration in ULSI interconnections
Gardado en:
| Autor Principal: | |
|---|---|
| Autor Corporativo: | |
| Formato: | Electrónico eBook |
| Idioma: | inglés |
| Publicado: |
Hackensack, N.J. :
World Scientific,
c2010.
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| Series: | International series on advances in solid state electronics and technology.
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| Subjects: | |
| Acceso en liña: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tags: |
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