Electromigration in ULSI interconnections
Сохранить в:
Главный автор: | Tan, Cher Ming, 1959- |
---|---|
Соавтор: | ebrary, Inc |
Формат: | Электронный ресурс eКнига |
Язык: | английский |
Опубликовано: |
Hackensack, N.J. :
World Scientific,
c2010.
|
Серии: | International series on advances in solid state electronics and technology.
|
Предметы: | |
Online-ссылка: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Схожие документы
Electromigration in ULSI interconnections
по: Tan, Cher Ming, 1959-
Опубликовано: (2010)
по: Tan, Cher Ming, 1959-
Опубликовано: (2010)
Advanced interconnects for ULSI technology
Опубликовано: (2012)
Опубликовано: (2012)
Advanced interconnects for ULSI technology
Опубликовано: (2012)
Опубликовано: (2012)
VLSI test principles and architectures design for testability /
Опубликовано: (2006)
Опубликовано: (2006)
VLSI test principles and architectures design for testability /
Опубликовано: (2006)
Опубликовано: (2006)
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
по: Ibe, Eishi H.
Опубликовано: (2015)
по: Ibe, Eishi H.
Опубликовано: (2015)
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
по: Ibe, Eishi H.
Опубликовано: (2015)
по: Ibe, Eishi H.
Опубликовано: (2015)
Power-constrained testing of VLSI circuits
по: Nicolici, Nicola
Опубликовано: (2003)
по: Nicolici, Nicola
Опубликовано: (2003)
Power-constrained testing of VLSI circuits
по: Nicolici, Nicola
Опубликовано: (2003)
по: Nicolici, Nicola
Опубликовано: (2003)
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
по: Tsividis, Yannis
Опубликовано: (2002)
по: Tsividis, Yannis
Опубликовано: (2002)
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
по: Tsividis, Yannis
Опубликовано: (2002)
по: Tsividis, Yannis
Опубликовано: (2002)
Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
по: Franca, Jose E.
Опубликовано: (1994)
по: Franca, Jose E.
Опубликовано: (1994)
Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
по: Franca, Jose E.
Опубликовано: (1994)
по: Franca, Jose E.
Опубликовано: (1994)
VLSI circuits for biomedical applications
Опубликовано: (2008)
Опубликовано: (2008)
VLSI circuits for biomedical applications
Опубликовано: (2008)
Опубликовано: (2008)
VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
по: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Опубликовано: (1999)
по: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Опубликовано: (1999)
VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
по: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Опубликовано: (1999)
по: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
Опубликовано: (1999)
High performance devices proceedings of the 2004 IEEE Lester Eastman Conference on High Performance Devices, Rensselaer Polytechnic Institute, 4-6 August 2004 /
Опубликовано: (2005)
Опубликовано: (2005)
High performance devices proceedings of the 2004 IEEE Lester Eastman Conference on High Performance Devices, Rensselaer Polytechnic Institute, 4-6 August 2004 /
Опубликовано: (2005)
Опубликовано: (2005)
Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
по: Radecka, Katarzyna
Опубликовано: (2003)
по: Radecka, Katarzyna
Опубликовано: (2003)
Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
по: Radecka, Katarzyna
Опубликовано: (2003)
по: Radecka, Katarzyna
Опубликовано: (2003)
A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /
по: Goel, Ashok K., 1953-
Опубликовано: (2015)
по: Goel, Ashok K., 1953-
Опубликовано: (2015)
A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /
по: Goel, Ashok K., 1953-
Опубликовано: (2015)
по: Goel, Ashok K., 1953-
Опубликовано: (2015)
Advanced high speed devices
Опубликовано: (2010)
Опубликовано: (2010)
Advanced high speed devices
Опубликовано: (2010)
Опубликовано: (2010)
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
по: Bahukudumbi, Sudarshan
Опубликовано: (2010)
по: Bahukudumbi, Sudarshan
Опубликовано: (2010)
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
по: Bahukudumbi, Sudarshan
Опубликовано: (2010)
по: Bahukudumbi, Sudarshan
Опубликовано: (2010)
System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
Опубликовано: (2008)
Опубликовано: (2008)
System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
Опубликовано: (2008)
Опубликовано: (2008)
Mosfet modeling for VLSI simulation theory and practice /
по: Arora, N. (Narain), 1943-
Опубликовано: (2007)
по: Arora, N. (Narain), 1943-
Опубликовано: (2007)
Mosfet modeling for VLSI simulation theory and practice /
по: Arora, N. (Narain), 1943-
Опубликовано: (2007)
по: Arora, N. (Narain), 1943-
Опубликовано: (2007)
VLSI and computer architecture
Опубликовано: (2009)
Опубликовано: (2009)
VLSI and computer architecture
Опубликовано: (2009)
Опубликовано: (2009)
CMOS fractional-N synthesizers design for high spectral purity and monolithic integration /
по: Muer, Bram de
Опубликовано: (2003)
по: Muer, Bram de
Опубликовано: (2003)
CMOS fractional-N synthesizers design for high spectral purity and monolithic integration /
по: Muer, Bram de
Опубликовано: (2003)
по: Muer, Bram de
Опубликовано: (2003)
Broadband circuits for optical fiber communication
по: Säckinger, Eduard, 1959-
Опубликовано: (2005)
по: Säckinger, Eduard, 1959-
Опубликовано: (2005)
Broadband circuits for optical fiber communication
по: Säckinger, Eduard, 1959-
Опубликовано: (2005)
по: Säckinger, Eduard, 1959-
Опубликовано: (2005)
Understanding fabless IC technology
по: Hurtarte, Jeorge S.
Опубликовано: (2007)
по: Hurtarte, Jeorge S.
Опубликовано: (2007)
Understanding fabless IC technology
по: Hurtarte, Jeorge S.
Опубликовано: (2007)
по: Hurtarte, Jeorge S.
Опубликовано: (2007)
Integrated interconnect technologies for 3D nanoelectronic systems
Опубликовано: (2009)
Опубликовано: (2009)
Схожие документы
-
Electromigration in ULSI interconnections
по: Tan, Cher Ming, 1959-
Опубликовано: (2010) -
Advanced interconnects for ULSI technology
Опубликовано: (2012) -
Advanced interconnects for ULSI technology
Опубликовано: (2012) -
VLSI test principles and architectures design for testability /
Опубликовано: (2006) -
VLSI test principles and architectures design for testability /
Опубликовано: (2006)