Electromigration in ULSI interconnections
שמור ב:
מחבר ראשי: | Tan, Cher Ming, 1959- |
---|---|
מחבר תאגידי: | ebrary, Inc |
פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
שפה: | אנגלית |
יצא לאור: |
Hackensack, N.J. :
World Scientific,
c2010.
|
סדרה: | International series on advances in solid state electronics and technology.
|
נושאים: | |
גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
Advanced interconnects for ULSI technology
יצא לאור: (2012)
יצא לאור: (2012)
VLSI test principles and architectures design for testability /
יצא לאור: (2006)
יצא לאור: (2006)
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
מאת: Ibe, Eishi H.
יצא לאור: (2015)
מאת: Ibe, Eishi H.
יצא לאור: (2015)
Power-constrained testing of VLSI circuits
מאת: Nicolici, Nicola
יצא לאור: (2003)
מאת: Nicolici, Nicola
יצא לאור: (2003)
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)
Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
מאת: Franca, Jose E.
יצא לאור: (1994)
מאת: Franca, Jose E.
יצא לאור: (1994)
VLSI circuits for biomedical applications
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
מאת: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
יצא לאור: (1999)
מאת: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
יצא לאור: (1999)
High performance devices proceedings of the 2004 IEEE Lester Eastman Conference on High Performance Devices, Rensselaer Polytechnic Institute, 4-6 August 2004 /
יצא לאור: (2005)
יצא לאור: (2005)
Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
מאת: Radecka, Katarzyna
יצא לאור: (2003)
מאת: Radecka, Katarzyna
יצא לאור: (2003)
A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /
מאת: Goel, Ashok K., 1953-
יצא לאור: (2015)
מאת: Goel, Ashok K., 1953-
יצא לאור: (2015)
Advanced high speed devices
יצא לאור: (2010)
יצא לאור: (2010)
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
מאת: Bahukudumbi, Sudarshan
יצא לאור: (2010)
מאת: Bahukudumbi, Sudarshan
יצא לאור: (2010)
System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
Mosfet modeling for VLSI simulation theory and practice /
מאת: Arora, N. (Narain), 1943-
יצא לאור: (2007)
מאת: Arora, N. (Narain), 1943-
יצא לאור: (2007)
VLSI and computer architecture
יצא לאור: (2009)
יצא לאור: (2009)
CMOS fractional-N synthesizers design for high spectral purity and monolithic integration /
מאת: Muer, Bram de
יצא לאור: (2003)
מאת: Muer, Bram de
יצא לאור: (2003)
Broadband circuits for optical fiber communication
מאת: Säckinger, Eduard, 1959-
יצא לאור: (2005)
מאת: Säckinger, Eduard, 1959-
יצא לאור: (2005)
Understanding fabless IC technology
מאת: Hurtarte, Jeorge S.
יצא לאור: (2007)
מאת: Hurtarte, Jeorge S.
יצא לאור: (2007)
Integrated interconnect technologies for 3D nanoelectronic systems
יצא לאור: (2009)
יצא לאור: (2009)
Computer chips post-Moore's-law possibilities.
יצא לאור: (2003)
יצא לאור: (2003)
Alternative computer chips post-silicon circuits.
יצא לאור: (2003)
יצא לאור: (2003)
Computer chips post-Moore's-law possibilities.
יצא לאור: (2003)
יצא לאור: (2003)
Beweiseignung : fortgeschrittener elektronischer signaturen /
מאת: Grigorjew, Olga
יצא לאור: (2015)
מאת: Grigorjew, Olga
יצא לאור: (2015)
Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics
מאת: Paik, Philip Y.
יצא לאור: (2007)
מאת: Paik, Philip Y.
יצא לאור: (2007)
Digital circuit analysis and design with simulink modeling
מאת: Karris, Steven T.
יצא לאור: (2007)
מאת: Karris, Steven T.
יצא לאור: (2007)
CMOS RFIC design principles
מאת: Caverly, Robert
יצא לאור: (2007)
מאת: Caverly, Robert
יצא לאור: (2007)
Compact models for integrated circuit design : conventional transistors and beyond /
מאת: Saha, Samar K.
יצא לאור: (2016)
מאת: Saha, Samar K.
יצא לאור: (2016)
Linear integrated circuits /
מאת: Choudhury, D. Roy
יצא לאור: (2017)
מאת: Choudhury, D. Roy
יצא לאור: (2017)
Handbook of 3D integration.
יצא לאור: (2014)
יצא לאור: (2014)
Radio frequency integrated circuit design
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2003)
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2003)
Designing bipolar transistor radio frequency integrated circuits
מאת: Sweet, Allen A., 1943-
יצא לאור: (2008)
מאת: Sweet, Allen A., 1943-
יצא לאור: (2008)
Radio-frequency integrated-circuit engineering /
מאת: Nguyen, Cam
יצא לאור: (2015)
מאת: Nguyen, Cam
יצא לאור: (2015)
Lumped elements for RF and microwave circuits
מאת: Bahl, I. J.
יצא לאור: (2003)
מאת: Bahl, I. J.
יצא לאור: (2003)
High-speed integrated circuit technology towards 100 GHz logic /
יצא לאור: (2001)
יצא לאור: (2001)
Lumped element quadrature hybrids
מאת: Andrews, David
יצא לאור: (2006)
מאת: Andrews, David
יצא לאור: (2006)
Digital integrated circuits : analysis and design /
מאת: Ayers, John E.
יצא לאור: (2010)
מאת: Ayers, John E.
יצא לאור: (2010)
Comprehensive functional verification the complete industry cycle
מאת: Wile, Bruce
יצא לאור: (2005)
מאת: Wile, Bruce
יצא לאור: (2005)
Analog circuits
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
Current sources & voltage references
מאת: Harrison, Linden T.
יצא לאור: (2005)
מאת: Harrison, Linden T.
יצא לאור: (2005)
פריטים דומים
-
Advanced interconnects for ULSI technology
יצא לאור: (2012) -
VLSI test principles and architectures design for testability /
יצא לאור: (2006) -
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
מאת: Ibe, Eishi H.
יצא לאור: (2015) -
Power-constrained testing of VLSI circuits
מאת: Nicolici, Nicola
יצא לאור: (2003) -
Mixed analog-digital VLSI devices and technology
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)