Electromigration in ULSI interconnections
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Körperschaft: | |
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Hackensack, N.J. :
World Scientific,
c2010.
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| Schriftenreihe: | International series on advances in solid state electronics and technology.
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tags: |
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| Beschreibung: | xix, 291 p. : ill. (some col.), col. port. |
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| Bibliographie: | Includes bibliographical references and index. |