ISTFA 2010 conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Nhiều tác giả của công ty: International Symposium for Testing and Failure Analysis Dallas, Tex., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Định dạng: Điện tử Hội nghị đang tiến hành eBook
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: Materials Park, Ohio : ASM International, 2010.
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!