প্রচ্ছদ

ISTFA 2010 conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA /

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
সংস্থা লেখক: International Symposium for Testing and Failure Analysis Dallas, Tex., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক কনফারেন্স প্রসিডিং বৈদ্যুতিন গ্রন্থ
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: Materials Park, Ohio : ASM International, 2010.
বিষয়গুলি:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronic books.
অনলাইন ব্যবহার করুন:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
প্রথমজন হিসাবে মন্তব্য করুন!
আপনি আগে লগইন করুন

অনুরূপ উপাদানগুলি