ISTFA 2010 conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Корпоративные авторы: International Symposium for Testing and Failure Analysis Dallas, Tex., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Формат: Электронный ресурс Материалы конференции eКнига
Язык:английский
Опубликовано: Materials Park, Ohio : ASM International, 2010.
Предметы:
Online-ссылка:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

Схожие документы