ISTFA 2010 conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile korporatiboa: International Symposium for Testing and Failure Analysis Dallas, Tex., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Formatua: Baliabide elektronikoa Konferentzia-aktak eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Materials Park, Ohio : ASM International, 2010.
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

Antzeko izenburuak