ISTFA 2010 conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA /

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書誌詳細
共著者: International Symposium for Testing and Failure Analysis Dallas, Tex., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
フォーマット: 電子媒体 会議録 eBook
言語:英語
出版事項: Materials Park, Ohio : ASM International, 2010.
主題:
オンライン・アクセス:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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その他の書誌記述
物理的記述:xix, 464 p. : ill. (some col.)
書誌:Includes bibliographical references and index.