Nanoscale processes on insulating surfaces
保存先:
第一著者: | Gnecco, Enrico |
---|---|
団体著者: | ebrary, Inc |
その他の著者: | Szymoński, Marek |
フォーマット: | 電子媒体 eBook |
言語: | 英語 |
出版事項: |
Singapore ; Hackensack, N.J. :
World Scientific,
c2009.
|
主題: | |
オンライン・アクセス: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|
類似資料
Scanning probe microscopy
出版事項: (2011)
出版事項: (2011)
Scanning probe microscopy of soft matter fundamentals and practices /
著者:: T͡Sukruk, V. V. (Vladimir Vasilʹevich)
出版事項: (2012)
著者:: T͡Sukruk, V. V. (Vladimir Vasilʹevich)
出版事項: (2012)
Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
著者:: Sarid, Dror
出版事項: (1994)
著者:: Sarid, Dror
出版事項: (1994)
Principles and practice of variable pressure/environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM)
著者:: Stokes, Debbie
出版事項: (2008)
著者:: Stokes, Debbie
出版事項: (2008)
Introduction to scanning tunneling microscopy
著者:: Chen, C. Julian
出版事項: (1993)
著者:: Chen, C. Julian
出版事項: (1993)
Rastertunnelmikroskopie und-spektroskopie an ruthenaten und der violetten lithium-molybdan-bronze /
著者:: Klinke, Melanie
出版事項: (2014)
著者:: Klinke, Melanie
出版事項: (2014)
Atomic force microscopy exploring basic modes and advanced applications /
著者:: Haugstad, Greg, 1963-
出版事項: (2012)
著者:: Haugstad, Greg, 1963-
出版事項: (2012)
Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics
出版事項: (2013)
出版事項: (2013)
Scanning probe microscopy for industrial applications : nanomechanical characterization /
出版事項: (2014)
出版事項: (2014)
Rastertunnelmikroskopie und -spektroskopie an Au/Ge(001)-Nanodrahten : ein modellsystem der luttinger-flussigkeit /
著者:: Sebastian Mietke
出版事項: (2014)
著者:: Sebastian Mietke
出版事項: (2014)
Biological low-voltage scanning electron microscopy
出版事項: (2008)
出版事項: (2008)
Scanning probe microscopy for energy research
出版事項: (2013)
出版事項: (2013)
Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis
著者:: Joy, David C., 1943-
出版事項: (1995)
著者:: Joy, David C., 1943-
出版事項: (1995)
Optical properties of surfaces
著者:: Bedeaux, Dick
出版事項: (2004)
著者:: Bedeaux, Dick
出版事項: (2004)
Thin film materials stress, defect formation, and surface evolution /
著者:: Freund, L. B.
出版事項: (2003)
著者:: Freund, L. B.
出版事項: (2003)
Active matrix liquid crystal displays
著者:: Boer, W. den (Willem), 1914-1993
出版事項: (2005)
著者:: Boer, W. den (Willem), 1914-1993
出版事項: (2005)
Holographic microscopy of phase microscopic objects theory and practice /
著者:: Tishko, Tatyana
出版事項: (2011)
著者:: Tishko, Tatyana
出版事項: (2011)
Biomedical electron microscopy illustrated methods and interpretations /
著者:: Maunsbach, Arvid Bernhard
出版事項: (1999)
著者:: Maunsbach, Arvid Bernhard
出版事項: (1999)
Scanning electron microscope optics and spectrometers
著者:: Khursheed, Anjam
出版事項: (2011)
著者:: Khursheed, Anjam
出版事項: (2011)
In-situ electron microscopy at high resolution
出版事項: (2008)
出版事項: (2008)
Electron microscopy and analysis
著者:: Goodhew, Peter J.
出版事項: (2001)
著者:: Goodhew, Peter J.
出版事項: (2001)
Fluorescence microscopy : from principles to biological applications /
出版事項: (2017)
出版事項: (2017)
Multiphoton microscopy and fluorescence lifetime imaging : applications in biology and medicine /
出版事項: (2018)
出版事項: (2018)
Electron microscopy XIV : selected, peer reviewed papers from the XIV International Conference on Electron Microscopy (EM2011), June 26-30, 2011, Wisla, Poland /
出版事項: (2012)
出版事項: (2012)
Atomic force microscopy in liquid biological applications /
出版事項: (2012)
出版事項: (2012)
Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films /
著者:: Wolstenholme, John
出版事項: (2015)
著者:: Wolstenholme, John
出版事項: (2015)
Thin-film solar cells
出版事項: (2010)
出版事項: (2010)
Molecular imaging FRET microscopy and spectroscopy /
出版事項: (2005)
出版事項: (2005)
Structure analysis of advanced nanomaterials : nanoworld by high-resolution electron microscopy /
著者:: Oku, Takeo
出版事項: (2014)
著者:: Oku, Takeo
出版事項: (2014)
High-resolution electron microscopy
著者:: Spence, John C. H.
出版事項: (2009)
著者:: Spence, John C. H.
出版事項: (2009)
Atomic force microscopy for biologists
著者:: Morris, V. J.
出版事項: (2010)
著者:: Morris, V. J.
出版事項: (2010)
Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy
出版事項: (2011)
出版事項: (2011)
Advances in acoustic microscopy and high resolution imaging from principles to applications /
出版事項: (2013)
出版事項: (2013)
Scanning electron microscopy for the life sciences
著者:: Schatten, Heide
出版事項: (2013)
著者:: Schatten, Heide
出版事項: (2013)
The physical properties of organic monolayers
著者:: Iwamoto, Mitsumasa
出版事項: (2001)
著者:: Iwamoto, Mitsumasa
出版事項: (2001)
Nano-optics and near-field optical microscopy
出版事項: (2009)
出版事項: (2009)
類似資料
-
Scanning probe microscopy
出版事項: (2011) -
Scanning probe microscopy of soft matter fundamentals and practices /
著者:: T͡Sukruk, V. V. (Vladimir Vasilʹevich)
出版事項: (2012) -
Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
著者:: Sarid, Dror
出版事項: (1994) -
Principles and practice of variable pressure/environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM)
著者:: Stokes, Debbie
出版事項: (2008) -
Introduction to scanning tunneling microscopy
著者:: Chen, C. Julian
出版事項: (1993)