Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Bahukudumbi, Sudarshan
Autor Corporativo:	ebrary, Inc
Otros Autores:	Chakrabarty, Krishnendu
Formato:	Electrónico eBook
Lenguaje:	inglés
Publicado:	Boston : Artech House, 2010.
Colección:	Artech House integrated microsystems series.
Materias:	Integrated circuits > Testing. Integrated circuits > Wafer-scale integration. Semiconductors > Testing. Electronic books.
Acceso en línea:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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