Electrical characterization of organic electronic materials and devices
Bewaard in:
Hoofdauteur: | Stallinga, Peter, 1966- |
---|---|
Coauteur: | ebrary, Inc |
Formaat: | Elektronisch E-boek |
Taal: | Engels |
Gepubliceerd in: |
Hoboken, NJ :
John Wiley & Sons,
2009.
|
Onderwerpen: | |
Online toegang: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
Gelijkaardige items
Electronic materials science
door: Irene, Eugene A.
Gepubliceerd in: (2005)
door: Irene, Eugene A.
Gepubliceerd in: (2005)
Polymers for electricity and electronics materials, properties, and applications /
door: Drobny, Jiri George
Gepubliceerd in: (2012)
door: Drobny, Jiri George
Gepubliceerd in: (2012)
Solid state electronic devices /
door: Streetman, Ben G.
Gepubliceerd in: (2010)
door: Streetman, Ben G.
Gepubliceerd in: (2010)
Single-electron devices and circuits in silicon
door: Durrani, Zahid Ali Khan
Gepubliceerd in: (2010)
door: Durrani, Zahid Ali Khan
Gepubliceerd in: (2010)
ISTFA 2015 conference proceedings from the 41st International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 1-5 2015, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA /
Gepubliceerd in: (2015)
Gepubliceerd in: (2015)
ISTFA 2009 conference proceedings from the 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-19, 2009, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
Gepubliceerd in: (2009)
Gepubliceerd in: (2009)
ISTFA 2008 conference proceedings from the 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 2-6, 2008, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA /
Gepubliceerd in: (2008)
Gepubliceerd in: (2008)
ISTFA 2002 proceedings of the 28th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 3-7 November 2002, Phoenix Civic Center, Phoenix, Ariz. /
Gepubliceerd in: (2002)
Gepubliceerd in: (2002)
ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.
Gepubliceerd in: (1996)
Gepubliceerd in: (1996)
ISTFA 2004 proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts /
Gepubliceerd in: (2004)
Gepubliceerd in: (2004)
ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /
Gepubliceerd in: (2003)
Gepubliceerd in: (2003)
ISTFA 2010 conference proceedings from the 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2010, InterContinental Hotel Dallas, Dallas, Texas, USA /
Gepubliceerd in: (2010)
Gepubliceerd in: (2010)
ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.
Gepubliceerd in: (1999)
Gepubliceerd in: (1999)
ISTFA 2005 Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis, Movember 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California /
Gepubliceerd in: (2005)
Gepubliceerd in: (2005)
ISTFA '97 proceedings of the 23rd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 27-31 October, 1997, Santa Clara Convention center, Santa Clara, California /
Gepubliceerd in: (1997)
Gepubliceerd in: (1997)
ISTFA '98 proceedings of the 24th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 15-19 November 1998, Hyatt Regency DFW, Dallas, Texas /
Gepubliceerd in: (1998)
Gepubliceerd in: (1998)
ISTFA 2013 : conference proceedings from the 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 3-7, 2013, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
Gepubliceerd in: (2013)
Gepubliceerd in: (2013)
ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /
Gepubliceerd in: (2007)
Gepubliceerd in: (2007)
ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /
Gepubliceerd in: (2001)
Gepubliceerd in: (2001)
ISTFA 2011 conference proceedings of the 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 13-17, 2011, San Jose Convention Center, San Jose, California, USA /
Gepubliceerd in: (2011)
Gepubliceerd in: (2011)
ISTFA 2014 : conference proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis ; November 9-13, 2014, George R. Brown Conversion Center, Houston, Texas, USA /
Gepubliceerd in: (2014)
Gepubliceerd in: (2014)
Organic electronics emerging concepts and technologies /
Gepubliceerd in: (2013)
Gepubliceerd in: (2013)
ISTFA 2006 proceedings of the 32nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 12-16, 2006, Renaissance Austin Hotel, Austin, Texas, USA.
Gepubliceerd in: (2006)
Gepubliceerd in: (2006)
Guide to state-of-the-art electron devices
Gepubliceerd in: (2013)
Gepubliceerd in: (2013)
Electronic : devices and circuits /
door: Kulshreshtha, D. c.
Gepubliceerd in: (2006)
door: Kulshreshtha, D. c.
Gepubliceerd in: (2006)
An essential guide to electronic material surfaces and interfaces /
door: Brillson, L. J.
Gepubliceerd in: (2016)
door: Brillson, L. J.
Gepubliceerd in: (2016)
Electronic components and processes
door: Maheshwari, Preeti
Gepubliceerd in: (2006)
door: Maheshwari, Preeti
Gepubliceerd in: (2006)
Polymers for electronic components a Rapra industry analysis report /
door: Cousins, Keith
Gepubliceerd in: (2001)
door: Cousins, Keith
Gepubliceerd in: (2001)
Electronic devices and amplifier circuits with MATLABʼ / Simulinkʼ / SimElectronics ʼ examples
door: Karris, Steven T.
Gepubliceerd in: (2012)
door: Karris, Steven T.
Gepubliceerd in: (2012)
Electronic devices : a text and software problems manual /
door: Schultz, Mitchel E.
Gepubliceerd in: (1994)
door: Schultz, Mitchel E.
Gepubliceerd in: (1994)
Electronic materials /
door: Kwok, H. L.
Gepubliceerd in: (2010)
door: Kwok, H. L.
Gepubliceerd in: (2010)
Novel architectures for flexible electrochemical devices and systems
door: Kawahara, Jun
Gepubliceerd in: (2013)
door: Kawahara, Jun
Gepubliceerd in: (2013)
Microelectronic failure analysis desk reference.
Gepubliceerd in: (2002)
Gepubliceerd in: (2002)
Microelectronics failure analysis desk reference /
Gepubliceerd in: (2011)
Gepubliceerd in: (2011)
Microelectronic failure analysis desk reference : 2001 supplement /
Gepubliceerd in: (2001)
Gepubliceerd in: (2001)
Advances in electronic materials : special topic volume with invited papers only /
Gepubliceerd in: (2009)
Gepubliceerd in: (2009)
ISTFA 2012 conference proceedings from the 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 11-15, 2012, Phoenix Convention Center, Phoenix, Arizona, USA.
Gepubliceerd in: (2012)
Gepubliceerd in: (2012)
ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.
Gepubliceerd in: (2000)
Gepubliceerd in: (2000)
Interface phenomena in organic electronics /
door: Bao, Qinye
Gepubliceerd in: (2015)
door: Bao, Qinye
Gepubliceerd in: (2015)
New organic semiconductors for applications in organic electronics
door: Du, Chunyan
Gepubliceerd in: (2010)
door: Du, Chunyan
Gepubliceerd in: (2010)
Gelijkaardige items
-
Electronic materials science
door: Irene, Eugene A.
Gepubliceerd in: (2005) -
Polymers for electricity and electronics materials, properties, and applications /
door: Drobny, Jiri George
Gepubliceerd in: (2012) -
Solid state electronic devices /
door: Streetman, Ben G.
Gepubliceerd in: (2010) -
Single-electron devices and circuits in silicon
door: Durrani, Zahid Ali Khan
Gepubliceerd in: (2010) -
ISTFA 2015 conference proceedings from the 41st International Symposium for Testing and Failure Analysis : November 1-5 2015, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA /
Gepubliceerd in: (2015)