ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor corporatiu: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Format: Electrònic Actes de congresos eBook
Idioma:anglès
Publicat: Materials Park, Ohio : ASM International, 2003.
Matèries:
Accés en línia:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!