ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Korporace: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Médium: Elektronický zdroj Konferenční příspěvek E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Materials Park, Ohio : ASM International, 2003.
Témata:
On-line přístup:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Podobné jednotky