ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile korporatiboa: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Formatua: Baliabide elektronikoa Konferentzia-aktak eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Materials Park, Ohio : ASM International, 2003.
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

Antzeko izenburuak