ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
organizacja autorów: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Format: Elektroniczne Materiały konferencyjne E-book
Język:angielski
Wydane: Materials Park, Ohio : ASM International, 2003.
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!